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MYPro I51 - 3D AOI

MYPro I51 - 3D AOI

  • AI驱动 AI驱动的接口,可实现快速可靠的编程
  • 快速 检测时间缩短30%
  • 准确 一流的精度

更快、更清晰的高性能3D AOI

MYPro I51将Mycronic 3D AOI技术的性能提升到新的高度,处理时间缩短了30%,检测精度不降反升。MYPro I51配备最新一代3D AOI传感器Iris™ 3D视觉技术,检测速度比上一代快30%,同时像素分辨率翻倍。因此,检测周期时间实现了真正的突破,与业内最苛刻的生产线保持同步,并且通过纳入对008004(0201公制)元件封装的检测进一步扩大了测试覆盖范围。

MYWizard,3D AOI编程的革新者

为了指导操作员完成编程,新的MYWizard用户界面集成了两个人工智能系统——先进的元件识别技术Auto-Matchmaker和检查基准点及元件极性的新机器学习算法。与前几代产品相比,它将编程时间减少了多达30%,同时降低了对编程人员的经验和培训需求。 

用于自动性能优化的Escape Tracker

用于检测性能的新一代自检系统

使用Escape Tracker,操作员可即时收到任何可能在生产过程中产生误报或逃逸的错误或编程缺陷提醒。无论生产条件或程序员技能水平如何,微调都将更加简单、快速和高效。

Iris™ 3D视觉技术

加速高性能检测。

新一代汽车和工业电子产品需要新一代检测技术与之匹配。Iris 3D视觉技术突破了高性能AOI的极限,即使在最苛刻的节拍时间也能提供业界最精确的测量和全面的测试覆盖。

更清晰的3D成像

Iris 3D image

Iris 3D image

Iris 3D image

行业领先的性能和生产稳定性

MYPro I系列在X、Y、Z和Theta方向提供一流的精度和可重复性,可实现高效的工艺控制。像素几何图案匹配技术、专有的3D算法以及独特的翘曲与失真补偿的特殊组合带来了卓越的关键测量能力。

  • 矢量成像模式匹配。
  • +/- 5 mm翘曲补偿,Z轴绝对精准度。
  • 像素技术,3.5 μm X/Y分辨率
  • 恒定的1 μm Z轴分辨率,高度范围-5到20 mm

一体化检测能力

MYPro I系列具有全面的测试覆盖范围,能以最高的精度测量元件本体、引脚和焊点以发现任何类型的缺陷。

MYPro I系列具有即用型2D和3D检测测试的综合工具箱,不仅可以检测所有SMT元件,还可以检测通孔元件、压接元件、各种类型和形状的连接器以及任何新封装。

该设备还能以计量级精度检测元件、引脚或连接器的电路板几何形状和相对位置,以进一步扩大测试覆盖范围并提高生产质量。

完全集成的过程控制

MYPro Link

MYPro Link是Mycronic屡获殊荣的基于Web的过程控制软件套件,可将检测数据关联的优势融入实时生产中。所有这些将帮助您随时监控生产线的性能,一目了然掌握生产状况,并且只需点击鼠标即可找出每个缺陷的根本原因。

MYPro Analyze

使用MYPro Analyze实时监控生产过程:准确的生产数据可帮助您优化性能,并为您提供有价值的信息,以进一步最大限度地提高一次通过率。

产品手册

MYPro I系列3D AOI产品手册

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Iris™ 3D视觉技术

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